Nicht-englische Patent-PDFs effizient lesen: Leitfaden zu INID-Codes, Patentansprüchen und Zeichnungsabgleich

Equalang

Kurz gesagt

Für F&E-Ingenieure und IP-Experten: WIPO-INID-Codes auf dem Deckblatt, Schriftenartencodes (A/B/U), Analyse komplexer Patentansprüche und layoutgetreue Übersetzung im Praxistest.

Schlagwörter: Patentrecherche, Nicht-englische Patente, WIPO-INID-Codes, Patentansprüche analysieren, Layoutgetreue Dokumentenübersetzung

Illustration zur Recherche nicht-englischer Patentdokumente mit zweispaltigen Patentansprüchen und technischem Zeichnungsabgleich
Recherche und Detailanalyse nicht-englischer Patente: Schnelle Einordnung über INID-Codes und gezielte Zerlegung unabhängiger wie abhängiger Ansprüche anhand von Bezugszeichen

Bei der Recherche zum Stand der Technik (Prior Art Search), bei Patentverletzungsprüfungen oder im Rahmen von Freedom-to-Operate-Analysen (FTO) stehen Entwicklungsingenieure und IP-Fachleute regelmäßig vor einer Hürde: In Datenbanken wie Espacenet des Europäischen Patentamts (EPA), J-PlatPat des japanischen Patentamts (JPO) oder KIPRIS des koreanischen Amts für geistiges Eigentum (KIPO) stoßen sie auf hochrelevante Dokumente – doch das Suchergebnis ist ein Dutzende Seiten langes Original-PDF auf Japanisch, Koreanisch oder Deutsch.

Patentdokumente besitzen eine ausgeprägt formelhafte, doppelte Natur aus Recht und Technik: Das Deckblatt ist voller standardisierter Kennziffern, die Patentansprüche (Claims) sind aus rechtlichen Gründen oft als einzige, hochkomplexe Schachtelsätze formuliert, und die technischen Merkmale in der Beschreibung verweisen fortlaufend auf Bezugszeichen (wie etwa erste Drehachse (102a)). Letztere müssen unmittelbar mit den Konstruktionszeichnungen und Toleranztabellen am Dokumentenende abgeglichen werden.

Um die Effizienz beim Erstsichten und der Tiefenprüfung nicht-englischer Patentschriften zu steigern, fasst dieser Leitfaden die universellen WIPO-INID-Codes des Deckblatts, die länder- und behördenspezifischen Schriftenartencodes (zur Unterscheidung zwischen Offenlegung und erteiltem Patent), bewährte Methoden zur Zerlegung komplexer Satzstrukturen sowie einen layoutgetreuen Workflow zum Zeichnungsabgleich zusammen.

1. Das Patent-Deckblatt in zehn Sekunden verstehen: WIPO-Standard ST.9 (INID-Codes)

Ganz gleich, ob Sie eine Veröffentlichung des japanischen, deutschen oder koreanischen Patentamts oder des Europäischen Patentamts vor sich haben: Vor fast jedem bibliografischen Datenfeld auf dem Deckblatt steht eine Zahl in runden Klammern. Dabei handelt es sich um die INID-Codes (Internationally agreed Numbers for the Identification of Data) nach dem WIPO-Standard ST.9. Wenn Sie die folgenden zwölf Schlüsselcodes kennen, erfassen Sie den rechtlichen und technischen Status eines Dokuments innerhalb weniger Sekunden:

INID-CodeStandardbezeichnungTerminologie (EN / JP / DE)Relevanz für Recherche & FTO
(11)DokumentennummerPublication No. / 公報番号 / VeröffentlichungsnummerDie eindeutige amtliche Zitiernummer der Veröffentlichung bzw. Patentschrift.
(12)Art des DokumentsPatent Application / 公開特許・特許公報 / Offenlegungsschrift bzw. PatentschriftZentral für die rechtliche Einordnung: Klärt sofort, ob es sich um eine ungeprüfte Offenlegung oder ein erteiltes Schutzrecht handelt.
(19)Veröffentlichende Behörde / LandJP / EP / DE / KR / WO / US / CNZweibuchstabiger Ländercode des zuständigen Amts bzw. der zwischenstaatlichen Organisation gemäß WIPO ST.3.
(21)Aktenzeichen / AnmeldenummerApplication No. / 出願番号 / AktenzeichenPrimärer Schlüssel zur Einsicht in die Prüfungsakte (File Wrapper) und den Schriftverkehr mit dem Prüfer.
(22)AnmeldetagFiling Date / 出願日 / AnmeldetagGesetzlicher Ausgangspunkt zur Berechnung der maximalen 20-jährigen Schutzdauer.
(30)PrioritätsangabenPriority / 優先権主張番号 / PrioritätsdatenKritisch für die Neuheitsprüfung: Für den relevanten Stand der Technik ist der früheste Prioritätstag maßgeblich, nicht das nationale Anmeldedatum.
(43)OffenlegungstagDate of publication / 公開日 / OffenlegungstagTag, an dem die Anmeldung nach Ablauf von 18 Monaten ab Prioritätstag der Öffentlichkeit zugänglich gemacht wird (bildet Stand der Technik).
(45)ErteilungstagDate of grant / 発行日(登録日) / Tag der PatenterteilungTag der amtlichen Bekanntmachung der Patenterteilung. Findet sich auf dem Deckblatt nur (43) und kein (45), liegt lediglich eine Offenlegungsschrift vor.
(51)Internationale Patentklassifikation (IPC)Int. Cl. / 国際特許分類 / Internationale Patentklassifikation (IPC)Sprachunabhängiger Klassifikationscode für das spezifische Technikgebiet (z. B. steht H01M 10/0525 für Lithium-Ionen-Akkumulatoren).
(54)Bezeichnung der ErfindungTitle / 発明の名称 / Bezeichnung der ErfindungTechnischer Gegenstand der Erfindung.
(57)ZusammenfassungAbstract / 要約 / ZusammenfassungKurzbeschreibung der Erfindung; dient in Verbindung mit der repräsentativen Zeichnung dem schnellen technischen Filtern.
(71)/(73)Anmelder / PatentinhaberApplicant / 出願人・特許権者 / Anmelder bzw. Patentinhaber(71) bezeichnet den Anmelder, (73) den eingetragenen Inhaber des erteilten Patents (wesentlich für das Wettbewerbsmonitoring).

2. Offenlegungsschrift vs. Patentschrift: Schriftenartencodes nach WIPO ST.16

In der Praxis unterliegt manchem Einsteiger der Irrtum, jedes Dokument mit dem Schriftzug „特許公報“ (Patentblatt) als rechtskräftiges Verbotsrecht einzustufen. Der WIPO-Standard ST.16 definiert jedoch über den nachgestellten Buchstabencode (Kind Code) verbindlich die Rechtswirkung und unterscheidet streng zwischen der Offenlegungsphase (A) und dem bereits erteilten Patent (B):

Land / BehördeDokumentencode & BezeichnungRechtsstatus & BedeutungHandlungsstrategie für FTO & Recherche
Japan (JP)特開 (Kōkai Tokkyo Kōhō, Code A) Bsp.: 特開2024-XXXXXX (P2024-XXXXXXA)Offenlegung einer Patentanmeldung (wird 18 Monate nach dem Prioritätstag publiziert).Als Stand der Technik verwertbar. Es liegt jedoch noch kein Schutzrecht vor. In J-PlatPat ist zu prüfen, ob die Anmeldung zurückgewiesen, zurückgenommen oder später als B2 erteilt wurde.
Japan (JP)公表 (Kōhyō, Code A)Japanische Übersetzung einer internationalen PCT-Anmeldung in der nationalen Phase.Rechtlich gleichwertig mit „特開“ (ungeprüfte Offenlegungsschrift, kein erteiltes Patent).
Japan (JP)特許 (Tokkyo Kōhō, Code B1/B2) Bsp.: 特許第XXXXXXX号 (PXXXXXXXB2)Erteiltes Patent nach Sachprüfung.Höchste Priorität bei FTO- und Verletzungsprüfungen. Die Patentansprüche (特許請求の範囲) müssen präzise geprüft und die Gebührenzahlung (Rechtsbestand) verifiziert werden.
Japan (JP)登録実用新案 (Code U)Eingetragenes japanisches Gebrauchsmuster (ungeprüft registriert).Bevor Unterlassungs- oder Schadensersatzansprüche geltend gemacht werden können, muss das JPO einen offiziellen Recherchebericht (Gebrauchsmuster-Gutachten) erstellen.
Deutschland (DE) / EPA (EP)Offenlegungsschrift (DE: A1 / EP: A1/A2)Offengelegte Patentanmeldung (beim EPA: A1 mit Recherchebericht, A2 ohne; beim DPMA bezeichnet A1 die Offenlegungsschrift ohne Unterscheidung nach Recherchebericht).Dokumentiert lediglich den Anmeldestand. Die ursprünglichen Ansprüche sind oft bewusst weit gefasst und werden im Prüfungsverfahren häufig eingeschränkt.
Deutschland (DE) / EPA (EP)Patentschrift (DE: B3/B4 / EP: B1/B2)Amtliche Patentschrift (beim EPA B1 bei Ersterteilung, B2 nach Einspruchsverfahren aufrechterhalten; das DPMA nutzt seit 2004 für erteilte Patente B3 [zuvor nicht offengelegt] und B4 [Erteilung nach vorangegangener A1-Veröffentlichung]).Rechtsverbindliches Schutzdokument. Nur dieser Text ist für die Beurteilung einer Patentverletzung maßgeblich.
Deutschland (DE)Gebrauchsmusterschrift (U1)Deutsches Gebrauchsmuster (maximale Schutzdauer: 10 Jahre).Rasche Eintragung ohne Sachprüfung; besonders verbreitet bei mechanischen Konstruktionen. Bei Messevorbereitungen und Markteinführungen unbedingt beachten.
Korea (KR)공개특허 (A) / 등록특허 (B1)공개 (Gong-gae, A) = Offenlegungsschrift; 등록 (Deung-rok, B1) = Erteilte Patentschrift.Auch hier gilt: Streng zwischen A- und B-Schriften unterscheiden. Aus den ursprünglichen Ansprüchen einer A-Schrift darf nicht voreilig auf eine Schutzrechtsverletzung geschlossen werden.

3. Japanische und deutsche Patentansprüche strukturiert zerlegen

Die Patentansprüche (Claims) bilden das rechtliche Fundament für den Schutzbereich eines Patents. Um den gesetzlichen Bestimmtheitsanforderungen zu genügen, verfassen Patentanwälte diese meist als einteilige, hochgradig verschachtelte Mammutsätze. Wer die logischen Schnittstellen kennt, kann selbst komplexeste Satzkonstruktionen zielsicher analysieren:

3.1 Der Aufbau eines unabhängigen Anspruchs (Hauptanspruch)

Ein klassischer Hauptanspruch besteht aus dem Oberbegriff (technischer Gegenstand und bekannte Merkmale), dem Übergangswort sowie dem kennzeichnenden Teil (die eigentliche Neuerung):

StrukturelementTypische englische WendungJapanische Wendung (特許請求の範囲)Deutsche Wendung (Patentansprüche)Logik für Lesart & Anspruchsanalyse
Übergangswort (offen: „umfassend / aufweisend“)comprising...…を備える / …を有する / …を含むumfassend... / aufweisend...Schutzbereich ist verletzt, sobald alle genannten Merkmale vorhanden sind – selbst wenn das Wettbewerbsprodukt zusätzliche Bauteile aufweist.
Übergangswort (geschlossen: „bestehend aus“)consisting of...…からなるbestehend aus...Häufig in der Chemie und Materialwissenschaft. Schließt weitere, nicht ausdrücklich aufgeführte Komponenten strikt aus.
Kennzeichnungswort („dadurch gekennzeichnet, dass…“)characterized in that...…ことを特徴とする[主題名称]。 (im Japanischen am Satzende)dadurch gekennzeichnet, dass...Trennt den bekannten Stand der Technik (Oberbegriff) von den innovativen Kernmerkmalen des Patents.
Rückbezug / Bestimmtes Bezugswort („besagt / genannt“)said... / the...前記[構成要素] / 当該…der / die / das genannte... / besagte...Referenziert eindeutig ein zuvor bereits eingeführtes Merkmal (Antecedent Basis).

Besonderheit des Japanischen: Während im Deutschen und Englischen die Bezeichnung des Gegenstands meist am Satzanfang steht („Vorrichtung zur..., dadurch gekennzeichnet, dass...“), steht das Substantiv des Schutzgegenstands im Japanischen typischerweise ganz am Ende des Anspruchs. Unser Tipp für japanische Ansprüche: Lesen Sie zuerst die letzten Wörter vor dem Satzpunkt, um sofort festzustellen, ob eine Vorrichtung (装置), ein Verfahren (方法) oder ein Computerprogramm (プログラム) beansprucht wird.

3.2 Die Hierarchie abhängiger Ansprüche (Unteransprüche)

Anhand standardisierter Einleitungsformeln lässt sich der Anspruchsbaum (Claim Tree) rasch rekonstruieren:

  • Japanisch: 請求項1に記載の[主題]において、さらに… („[Gegenstand] nach Anspruch 1, ferner umfassend...“) oder 請求項1~3のいずれか1項に記載の… („... nach einem der Ansprüche 1 bis 3“).
  • Deutsch: [Vorrichtung] nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass... oder [Verfahren] nach einem der vorhergehenden Ansprüche....

4. Layouttreue und Bezugszeichen: Workflow für die Detailanalyse nicht-englischer Patente

Liegt eine mehrseitige Patentschrift auf Japanisch oder Koreanisch als PDF vor, scheitert das schnelle Verständnis selten an einzelnen Fachbegriffen. Die eigentliche Hürde ist das Format: Textblöcke über mehrere Spalten hinweg, Satzabbrüche an Seitenumbrüchen oder Bezugszeichen (wie 102a), die in reinen Textübersetzern isoliert ohne Bezug zur Zeichnung dastehen.

In der Recherche- und FTO-Praxis muss ein praxistauglicher Workflow daher drei zentrale Layout-Probleme lösen:

  1. Zweispaltiger Satz und seitenübergreifende Schachtelsätze: Nahezu alle Patentämter (JPO, DPMA, EPA) drucken ihre Schriften in kompaktem, zweispaltigem Layout. Beim simplen Kopieren von Text geraten Spalten durcheinander oder Sätze reißen am Seitenumbruch ab. Eine professionelle Dokumentenübersetzung mit nativer Layouterkennung führt getrennte Satzteile vor der Übersetzung wieder zusammen, sodass die logische Verknüpfung der Merkmale intakt bleibt.
  2. Erhalt von Tabellengittern und Formeln in Ausführungsbeispielen: Insbesondere in der Chemie, Materialwissenschaft und Elektronik wimmelt es von tabellarischen Messreihen und Reaktionsschemata. Wenn das Tabellengerüst exakt erhalten bleibt, geraten Messwerte und Spaltenüberschriften nicht durcheinander.
  3. Konstruktionshinweise und Toleranzen direkt am Zeichnungsdetail: In den Patentzeichnungen (Brief Description of Drawings) und technischen Plänen müssen Maßangaben, Toleranzen und Bearbeitungshinweise exakt an den jeweiligen Hinweislinien verbleiben.

Die folgende Gegenüberstellung zeigt eine öffentlich zugängliche Maschinenbauzeichnung (Applied Kinetics) vor und nach einer layoutgetreuen Übersetzung:

Technische Zeichnung im englischen Original (Seite 1)Equalang Dokumentenübersetzung im Praxistest
Erste Seite der englischen Original-Maschinenbauzeichnung von Applied KineticsErste Seite der übersetzten Konstruktionszeichnung via Equalang Dokumentenübersetzung

Im Test bleiben das Layout der beiden isometrischen Ansichten, die Stückliste (BOM) oben rechts sowie das Schriftfeld unten rechts in ihrer ursprünglichen Layoutstruktur erhalten, was den Aufwand für das ständige Hin- und Herspringen zwischen Text und Grafik erheblich reduziert.

5. Empfehlungen für Detailanalyse und rechtliche Belastbarkeit

Maschinelle Übersetzung und layoutgetreue Aufbereitung steigern den Durchsatz bei der Erstprüfung und Patentrecherche erheblich. Sobald jedoch ein formelles FTO-Gutachten oder eine verbindliche rechtliche Stellungnahme erstellt wird, sollten folgende Grundsätze beachtet werden:

  1. Prüfung im Split-Screen-Verfahren: Öffnen Sie auf einem Bildschirm die Arbeitsübersetzung für das zügige Erfassen der Zusammenhänge, auf dem zweiten das amtliche Original-PDF. Bei entscheidenden Anspruchsmerkmalen (etwa Vorsprung (14) oder Ventilsitz (22)) empfiehlt sich stets der direkte Blick auf die Bezugszeichen in der Originalzeichnung.
  2. Satzbild und Textausdehnung berücksichtigen: Unterschiedliche Sprachen weisen unterschiedliche Wortlängen auf. Kleinere Zeilenumbrüche oder angepasste Schriftgrade sind technisch bedingt unvermeidbar; entscheidend ist die korrekte Zuordnung von Absätzen, Tabellenzellen und Beschriftungen.
  3. Kritische Begrenzungen immer im Originaltext prüfen: Der Schutzbereich hängt oft an einzelnen Signalwörtern. Im Japanischen etwa grenzen Wendungen wie „実質的に“ (im Wesentlichen), „以上 / 以下“ (einschließlich des Grenzwertes) oder „超える / 未満“ (ausschließlich des Grenzwertes) den Bereich strikt ab. Im Deutschen steuern Ausdrücke wie „mindestens“ oder „insbesondere“ (letzteres leitet in der Regel nicht einschränkende Ausführungsbeispiele ein) die Tragweite. Solche Schlüsselbegriffe sollten stets im Originalwortlaut gegengeprüft werden.
  4. Rechtsstand und Prüfungsakte verifizieren: Treffen Sie niemals FTO-Entscheidungen allein auf Basis einer Offenlegungsschrift. Prüfen Sie anhand des Dokumentencodes (A vs. B) den aktuellen Verfahrensstand in der amtlichen Prüfungsakte (File Wrapper) sowie die Bezahlung der Jahresgebühren.

Wer die zentralen WIPO-Standards beherrscht, Patentansprüche strukturiert zerlegt und auf layoutgetreue Hilfsmittel setzt, führt die Erstsichtung und die Lokalisierung technischer Merkmale bei komplexen nicht-englischen Patenten deutlich effizienter durch.

Die Übersetzungsbeispiele in diesem Artikel wurden mit Equalang erstellt.

Quellen und weiterführende Referenzen